Title:
情報処理装置、分析方法、及び、記録媒体
Document Type and Number:
Japanese Patent JPWO2015174063
Kind Code:
A1
Abstract:
不変関係分析における異常検知能力を向上し、誤った異常報告を低減する。システム分析装置（１００）は、相関モデル生成部（１３０）、及び、学習信頼度算出部（１４０）を含む。相関モデル生成部（１３０）は、システムにおける複数のメトリックの学習期間の時系列をもとに、メトリック間の相関関係を含む相関モデルを生成する。学習信頼度算出部（１４０）は、相関モデルに含まれる相関関係に係るメトリックの各々の学習期間の時系列の振る舞いをもとに、当該相関関係の学習信頼度を算出する。
Inventors:
Naoki Yoshinaga
Application Number:
JP2016519107A
Publication Date:
April 20, 2017
Filing Date:
May 11, 2015
Export Citation:
Assignee:
NEC
International Classes:
G06F11/34; G06N20/00
Attorney, Agent or Firm:
Masahiko Desk
Naoki Shimosaka
Naoki Shimosaka
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