Title:
温度測定のための浸漬装置及び位置検出のための方法
Document Type and Number:
Japanese Patent JP2024056934
Kind Code:
A
Abstract:
【課題】浸漬装置と、浸漬装置を使用して光芯線の位置を検出するための方法とを提供する。【解決手段】光芯線（５０）を用いて電気アーク炉（６０）容器（６２）内の金属溶融物（６４）の温度を測定するための浸漬装置（１０）は、パージガスを容器（６２）への入口点内に吹き込むための吹き込みランス（２８）と、光芯線（５０）の位置を検出するための検出手段とを備える。光芯線（５０）は、入口点に対して供給チャネル（２０）内及び／又は吹き込みランス（２８）内で移動することができる。検出手段は、吹き込みランス（２８）内又はその近傍の光芯線（５０）の存在を検出するように構成されている。これは、ファイバの先端と溶融物との間の短い距離を可能にし、したがって、温度測定シーケンス間の短い時間間隔を可能にする。【選択図】図６
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Inventors:
Michelle Van Vrielberge
Guido Neyens
Guido Neyens
Application Number:
JP2024022403A
Publication Date:
April 23, 2024
Filing Date:
February 16, 2024
Export Citation:
Assignee:
Heraeus Electro-Nite International N.V.
International Classes:
F27D21/00; F27D3/16; F27D27/00
Attorney, Agent or Firm:
Axis International Patent Attorney Corporation